機種：日本分光 FT/IR-4100
試料に赤外光を照射し、試料からの透過光または反射光を測定する。分子振動に基づく吸収スペクトルから、試料中の分子の結合状態についての情報を得る事ができる。
日本分光 FT/IR-4100
| 光源 | 高輝度セラミック光源 |
|---|---|
| ビームスプリッタ | Ge/KBr |
| 検出器 | DLATGS |
| 測定法 | 透過法、反射法（ATR法） |
- RESUMEスイッチはOFFにしないでください
- 利用後は透過法のユニットに戻してください
- 装置のトラブルがありましたら速やかに管理担当者に連絡して下さい
- 故障の場合、状況と程度に応じて利用研究室に修理負担を求めることがあります
ユーザー測定：利用講習会の受講者による測定
依頼測定：事前打ち合わせにて試料内容、ご要望を確認させていただきます
直接測定：測定１時間あたり 710円 （学外者 880円）
依頼測定：測定１時間あたり 2,240円 （学外者 2,730円）
講習受講者は、東海国立大学機構設備・機器共用システムからお申し込みください
施設名：共用化委員会、装置ID=393
初回利用の方は、予約システムから利用者登録と研究室グループに加入の上、装置の利用資格申請をしてください。
詳細はこちらをご参照ください。
管理責任者：応用物質化学専攻 教授 大槻 主税
連絡先：
全学技術センター 技術職員 鳥居 実恵
[内線] 4555
[e-mail] torii【a】chembio.nagoya-u.ac.jp
全学技術センター 技術職員 西村 真弓
[内線] 4555
[e-mail] nishimura【a】etech.engg.nagoya-u.ac.jp
全学技術センター 技術職員 林 育生
[内線] 4555
[e-mail] ihayashi【a】etech.engg.nagoya-u.ac.jp
＊【a】を@に置き換えてください。