[装置概要]　レーザー回折／散乱式粒度分布測定装置
  　　　機種：堀場LA-920型

　粒子に光をあてると回折や散乱が生じる。その強度パターンは粒子の大きさに依 存するため，これを利用して粒子径分布を測定する装置である。測定には，試料を 液中に分散させる方法と空気中に分散させる方法とがあり，前者が一般的であるが， 液体中で溶解，凝集および膨潤しやすい試料等には後者を用いる。


堀場LA-920型
[堀場LA-920の特徴]
 
  • 測定レンジは光学系を切り替えることなく0.02～2000μmのひろい範囲をカバー。
  • 強制分散式乾式測定ユニットを装備しているため，乾式の測定が可能。
  • 測定開始から約20秒で結果が表示されるため，測定が非常に高速。
  • 本体の操作およびデータ処理はほとんど付属ＰＣのマウスだけで行い，操作性が良いため，初心者も短時間でマスターできる。
[測定法の概略]
  粒子に光をあてて生じる散乱（回折）のパターンは，基本的には粒子の大きさと光の波長の比で決まるため，一般にHe-Neレーザーが用いられる。粒子径がレーザー光の波長に比べて充分大きい場合（ほぼ１μm以上）は，フランホーファー回折理論により解析する。これより小さい粒子の場合には，ミーの散乱理論により解析する。この場合，粒子の屈折率が必要となる。また，0.1μm程度より小さい粒子の測定はさらに短い波長の光が必要となるため，この装置ではタングステンランプを用いて0.02μmまでの測定を可能にしている。
[注意事項]
 
  1. 測定終了後の循環系の洗浄において，少しでも試料粒子が残っていると次回の測定に影響するため，この操作は確実に数回行うこと。
  2. 使用後は装置および周辺の原状復帰を必ず行うこと。
  3. 装置のトラブルが生じた場合，速やかに担当者または管理担当者へ連絡すること。
  4. データのハードディスクへの保存は，所定のフォルダを使用すること。このフォルダは時々クリーンアップするため，FD等へのバックアップは各自で行うこと。



管理担当者：化学システム工学専攻　 准 教 授　 向井康人　 内線 3375
担　当　者：技術センター　 技術職員　 西村真弓　 内線 4555



利用手続

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